產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION
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TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品型號(hào)
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廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
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更新時(shí)間
2024-11-12
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瀏覽次數(shù)
3674
產(chǎn)品描述
TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測(cè)試儀允許在非接觸模式下對(duì)導(dǎo)電薄膜進(jìn)行手動(dòng)單點(diǎn)測(cè)量和薄金屬層的層厚測(cè)量。 緊湊的臺(tái)式設(shè)備非常適合快速準(zhǔn)確地測(cè)量最大 200 x 200 mm²(8 x 8 英寸)的樣品。 除了測(cè)量薄的導(dǎo)電層外,還可以分析摻雜的晶片和導(dǎo)電聚合物。
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2020SR非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品型號(hào)
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廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
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更新時(shí)間
2024-11-12
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瀏覽次數(shù)
1366
產(chǎn)品描述
2020SR非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)試儀是一種非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)量系統(tǒng)。該設(shè)備包含一個(gè)渦流傳感器組,可將微弱電流感應(yīng)到導(dǎo)電薄膜和材料中。樣本中的感應(yīng)電流會(huì)產(chǎn)生與測(cè)量對(duì)象的薄層電阻相關(guān)的電磁場(chǎng)。
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